The effects of temperature on the structure and morphology of (Ti,Al)N coatings

Bernal Salamanca, Mónica Emperatriz; Benavides, Victor Javier; Arango, Yulieth Cristina

Efecto de la temperatura en la estructura y morfología de recubrimientos de (Ti Al)N

dc.creator	Bernal Salamanca, Mónica Emperatriz
dc.creator	Benavides, Victor Javier
dc.creator	Arango, Yulieth Cristina
dc.date	2013-09-04
dc.date.accessioned	2022-03-24T17:51:54Z
dc.date.available	2022-03-24T17:51:54Z
dc.identifier	https://journal.poligran.edu.co/index.php/elementos/article/view/414
dc.identifier	10.15765/e.v3i3.414
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10823/6237
dc.description	(Ti,Al)N ﬁlms were grown on a susbtrate of stainless steel by means PAPVD by controlled pulsed cathodic arc technique usinga target of TiAl (50/50 % atomic) in an Ar + N atmosphere. The coatings were deposited at diﬀerent temperatures of the substrate, room temperature, 50 C and 100 C. The ﬁlms were characterized structurally by means X-ray diﬀraction (XRD). With the purpose of determining microstrain, crystallite size and lattice parameter in function of the substrate temperature was used Rietveld method with PVII and SPV ﬁtting funtions. The morphology study was made by means of atomic force microscopy (AFM), obtaining results about roughness and grain size.The results show that (200) orientation has more intensity than other planes and it keeps for diﬀerent temperatures. The roughness diminishes with the increment of the substrate temperature.	en-US
dc.description	Películas del (Ti,Al)N fueron crecidas sobre un sustrato deacero inoxidable por la técnica PAPVD por arco pulsado controlado usando un blanco de TiAl (50/50 % atómico) con atmósfera Ar + N Se crecieron a diferentes temperaturas del sustrato, a temperatura ambiente, 50 C y 100 C. Los recubrimientos fueron caracterizados estructuralmente con difracción de rayos X (XRD), con el ﬁn de determinar las microtensiones, el tamaño del cristalito y el parámetro de red; en función de la temperatura del sustrato se utilizó el método Rietveld con funciones de ajuste PVII y SPV. La caracterización morfológica se realizó con la técnica de microscopia de fuerza atómica (AFM), obteniendo resultados de rugosidad y tamaño de grano. Los resultados muestran que la orientación (200) es el plano de mayor intensidad que se mantiene para las diferentes temperaturas. La rugosidad de la película decrece a medida que la temperatura del sustrato aumenta.	es-ES
dc.format	application/pdf
dc.language	spa
dc.publisher	Politécnico Grancolombiano	es-ES
dc.relation	https://journal.poligran.edu.co/index.php/elementos/article/view/414/391
dc.source	ELEMENTOS; Vol. 3 No. 3 (2013): Elementos	en-US
dc.source	Elementos; Vol. 3 Núm. 3 (2013): Elementos	es-ES
dc.source	2248-5252
dc.source	2027-923X
dc.source	10.15765/e.v3i3
dc.subject	(Ti	en-US
dc.subject	Al)N	en-US
dc.subject	análisis estructural	en-US
dc.subject	morfología de la super?cie	en-US
dc.title	The effects of temperature on the structure and morphology of (Ti,Al)N coatings	en-US
dc.title	Efecto de la temperatura en la estructura y morfología de recubrimientos de (Ti Al)N	es-ES
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type	Artículo revisado por pares	es-ES

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Revista semestral de divulgación académica en ingeniería

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