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Characterization of materials through SEM measures
Caracterización de materiales a través de medidas de microscopía electrónica de barrido (SEM)
dc.creator | Clavijo, Josué | |
dc.date | 2013-09-06 | |
dc.date.accessioned | 2022-03-24T17:51:54Z | |
dc.date.available | 2022-03-24T17:51:54Z | |
dc.identifier | https://journal.poligran.edu.co/index.php/elementos/article/view/420 | |
dc.identifier | 10.15765/e.v3i3.420 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10823/6243 | |
dc.description | SEM is an image generation technique widely used on materials researchdue its high-resolution capabilities and proven aptitude to unveil morphological, structural and even chemical features of a given sample.This paper brings out a concise review of the fundamentals, instrumental details and usefulness of the resulting SEM images. All of the concluding facts were thus related with the most important hotocatalyst: TiO2. | en-US |
dc.description | La microscopía de barrido electrónico (SEM) es una técnica de obtención de imágenes ampliamente utilizada en investigación de materiales debido a su alta resolución y capacidades de analizar características morfológicas, estructurales y químicas de las muestras bajo estudio. En este documento revisamos los fundamentos tanto conceptuales como de funcionamiento y utilidad de las imágenes que resultan de una medida de SEM, relacionando todo con el material más usado en fotocatálisis eterogénea, el ióxido de titanio (TiO2). | es-ES |
dc.format | application/pdf | |
dc.language | spa | |
dc.publisher | Politécnico Grancolombiano | es-ES |
dc.relation | https://journal.poligran.edu.co/index.php/elementos/article/view/420/397 | |
dc.source | ELEMENTOS; Vol. 3 No. 3 (2013): Elementos | en-US |
dc.source | Elementos; Vol. 3 Núm. 3 (2013): Elementos | es-ES |
dc.source | 2248-5252 | |
dc.source | 2027-923X | |
dc.source | 10.15765/e.v3i3 | |
dc.subject | SEM | en-US |
dc.subject | photocatalysis | en-US |
dc.subject | image analysis | en-US |
dc.subject | TiO2 | en-US |
dc.title | Characterization of materials through SEM measures | en-US |
dc.title | Caracterización de materiales a través de medidas de microscopía electrónica de barrido (SEM) | es-ES |
dc.type | info:eu-repo/semantics/article | |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | |
dc.type | Artículo revisado por pares | es-ES |
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Elementos [66]
Revista semestral de divulgación académica en ingeniería